意大利Miam　Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統

型號：Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統

品牌：意大利Miam

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意大利Miam

1994年，Mi.am（用于環境的微電子學）成立，旨在為專業人士提供*佳儀器。安東尼奧·帕拉維奇尼（Antonio Parravicini）于1989年以ra的論文畢業于物理學，他意識到這個話題的重要性，當時幾乎還不為人所知，因此創立了公司。 Mi.am開始代表最重要的公司，并...[查看更多]

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意大利MIam Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統由愛儀器儀表網代理，本產品是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統。該系統可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器?，F在熱賣中，如需購買，可通過ai1718.com的客服熱線聯系我們！

Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統簡介：
?Politrack® 是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統。
?Politrack可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器。主要應用于各類研究，氡和中子的劑量測定。
?Politrack提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。
?掃描面積可達 205x205 mm2，用戶可定義探測器尺寸和讀取面積。
通過 OCR 讀取探測器ID。
?在掃描開始時執行的自動對焦例程可確保在整個讀取過程中使圖像聚焦探測器表面。
?形態分析會將對來自不同粒子或具有不同能量的徑跡蝕刻進行分類，并去除本底噪聲。
?形態參數中具有濾鏡功能，用戶可以看到應用濾鏡后會發生或出現什么狀態，并且以此進行修改參數范圍或強度。軟件可對與徑跡密度成正比的徑跡重疊進行校正。
?輸出數據文件包含所有探測器相關數據，用戶可以自定義輸出模板和格式（與Excel完全兼容）。

Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統特點：
?任何尺寸的CR-39和LR115檢測器均可讀數
?精密的徑跡蝕刻形態分析
?CR-39檢測器老化校正
?LR115殘余厚度校正
?重疊校正
?清晰明確的算法，不存在黑匣子
?操作員可設置和修改所有參數

Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統應用領域：
?各類研究工作
?劑量測定服務
?氡測量
?快中子
?熱中子
?LET光譜

Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統操作方法：
用戶可以定義探測器的類型和尺寸，讀取區域以及所有掃描參數。形態分析可以區分來自不同粒子和具有不同能量的徑跡，去除本底干擾。

所有算法清晰明確，用戶可以通過功能強大的圖形工具輕松修改和/或應用形態分析濾鏡，并實時可視化結果。若需更改參數，可直接使用二次計算工具，而無需重新讀取探測器。輸出文件包含所有探測器相關掃描數據，用戶可自定義輸出模板和格式。

蜂窩抗振面包板	550x750x40毫米
三軸微步電機控制板
顯微鏡：	4x +針孔（rad）; 20x +冷凝器（中子）
掃描架	200x200 mm
Z軸精密線性平臺	重復精度+/- 0.5微米
相機	1/3英寸CCD USB3 1280x960 b / n，30幀/秒
XY電動掃描臺	205x205mm，90mm / sec，分辨率<1微米
LED系統	用于樣品背光
軟件包：	CR-39 ,、 LR115 ,、 CR-39中子/ LET光譜儀